(一)成果简介
本发明公开了一种改进的分段阶梯相位编码三维测量方法,由间断阶梯相位编码原理、分段相位编码原理、互补型条纹级次校正原理以及三维测量原理四大关键部分组成。本发明的优点:由于使用相位而不是强度编码的方式,对被测物体表面的对比度、环境光、相机噪声等因素不敏感,鲁棒性好。因此,该方法能够测量表面明暗程度不同的物体;通过分段的思想来增加了码字的数量,并且通过设计间断的阶梯相位来增加相邻的阶梯高度,能提高测量精度;经过两次左右相移后的条纹级次用来互补原始条纹级次的跳变,大大提高了解码的准确度。
技术优势:基于结构光的较大物体三维测量的关键技术,单幅最大测量幅面:1200mm ×600mm,测量精度最高可达0.05mm。
技术成熟度:已有小样
知识产权情况:202010021610.5
(二)应用情况
成果广泛应用于尺寸测量、质量控制、数字制造和逆向工程等领域,对提升基于结构光的三维测量关键技术水平起到重要推动作用,具有广阔的应用前景和市场价值。
(三)市场化前景
在测量复杂的工业产品三维形貌具有一定的应用前景。
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